基于Halcon的太陽(yáng)能硅片缺陷檢測(cè)技術(shù)研究 Research on Solar Wafer Defect Detection Technology based on Halcon 齊魯工業(yè)大學(xué)（山東省科學(xué)院）電氣工程與自動(dòng)化學(xué)院 段華偉 Duan Huawei 摘 要：針對(duì)太陽(yáng)能硅片生產(chǎn)過(guò)程中碎片率增加的問(wèn)題，同時(shí)為了有效避免太陽(yáng)能電池對(duì)相關(guān)工藝造成的影響，需要使用機(jī)器視覺系統(tǒng)進(jìn)行有效的缺陷檢測(cè)，因此，提出了基于Halcon圖像處理的太陽(yáng)能硅片表面缺陷系統(tǒng)的總體設(shè)計(jì)方案，介紹了太陽(yáng)能硅片檢測(cè)系統(tǒng)的主要組成部分、圖像處理的關(guān)鍵算法以及實(shí)施此項(xiàng)技術(shù)的好處。 關(guān) 鍵 詞：太陽(yáng)能硅片[登陸后可查看全文]