加速壽命試驗(yàn)及其在電子產(chǎn)品上的應(yīng)用 Accelerated Life Testing and Application in Electronic Products 中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)研究所  王升鴻 Wang Shenghong  丁成功 Ding Chenggong 摘 要：加速壽命試驗(yàn)是電子元器件可靠性試驗(yàn)中的一項(xiàng)重要的試驗(yàn)手段，采取加速壽命試驗(yàn)的主要目的是加快試驗(yàn)進(jìn)度，為預(yù)測系統(tǒng)或設(shè)備的可靠度提供重要依據(jù)。本文簡要介紹了三種加速壽命試驗(yàn)方案和加速壽命試驗(yàn)理論依據(jù)，詳細(xì)介紹了溫度和濕度應(yīng)力條件下的加速壽命計(jì)算方法，為工程技術(shù)人員提供進(jìn)行其它產(chǎn)品的加速壽命試驗(yàn)提[登陸后可查看全文]