摘 要：針對(duì)集成電路的規(guī)模和復(fù)雜度不斷增加而相應(yīng)的測(cè)試卻越來(lái)越困難的問題，本文提出了一種基于三值神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的組合電路測(cè)試生成算法。該算法不需要傳播，也不需要回退，而是利用三值神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)把組合電路表示成雙向的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，并構(gòu)造網(wǎng)絡(luò)的能量函數(shù)，用遺傳算法求解能量函數(shù)的最小值點(diǎn)來(lái)求得測(cè)試矢量，這樣就把組合電路的測(cè)試生成問題轉(zhuǎn)化為數(shù)學(xué)問題。在一些基準(zhǔn)電路上的實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明本算法具有較高的故障覆蓋率和較短的測(cè)試時(shí)間。 關(guān)鍵詞：三值神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)   測(cè)試生成算法    遺傳算法 能量函數(shù) [登陸后可查看全文]