摘 要：針對集成電路的規模和復雜度不斷增加而相應的測試卻越來越困難的問題，本文提出了一種基于三值神經網絡的組合電路測試生成算法。該算法不需要傳播，也不需要回退，而是利用三值神經網絡把組合電路表示成雙向的神經網絡，并構造網絡的能量函數，用遺傳算法求解能量函數的最小值點來求得測試矢量，這樣就把組合電路的測試生成問題轉化為數學問題。在一些基準電路上的實驗結果表明本算法具有較高的故障覆蓋率和較短的測試時間。 關鍵詞：三值神經網絡   測試生成算法    遺傳算法 能量函數 [登陸后可查看全文]