研華「2014量嵌入式測試與測技術巡回研討會」圓滿落幕
日期:
2014-07-03 16:07
2014年6月24日研華以敏捷開發和智能監診技術提升生產測試效能--嵌入式測試測量軟件開發與智能監診趨勢論壇首場北京站成功舉辦。本次研討會以測試測量技術在智能監診及敏捷開發等領域的應用為主要內容，探討了。NET Framework的最新發展趨勢及商機。與此同時，介紹了研華為測試測量行業提供的整體解決方案和軟硬件產品。研討會現場氣氛熱烈，觀眾在現場操作了研華最新量測產品，互動積極，深切地感受到嵌入式測試測量技術的創新應用與整體解決方案。
研華2014嵌入式測試與量測技術巡回研討會現場圖片
研討會中，研
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