研華「2014量嵌入式測試與測技術巡回研討會」圓滿落幕
日期:2014-07-03 16:07

　　2014年6月24日研華以敏捷開發(fā)和智能監(jiān)診技術提升生產測試效能--嵌入式測試測量軟件開發(fā)與智能監(jiān)診趨勢論壇首場北京站成功舉辦。本次研討會以測試測量技術在智能監(jiān)診及敏捷開發(fā)等領域的應用為主要內容，探討了。NET Framework的最新發(fā)展趨勢及商機。與此同時，介紹了研華為測試測量行業(yè)提供的整體解決方案和軟硬件產品。研討會現(xiàn)場氣氛熱烈，觀眾在現(xiàn)場操作了研華最新量測產品，互動積極，深切地感受到嵌入式測試測量技術的創(chuàng)新應用與整體解決方案。



研華2014嵌入式測試與量測技術巡回研討會現(xiàn)場圖片



　　研討會中，研

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