描繪SiC晶圓的不同晶體多型體的拉曼圖像。
inVia系統使用戶能夠利用最全面的拉曼成像技術研究最廣泛的樣品種類。雷尼紹獨有的一系列互補的成像選項允許用戶輕松獲得他們所需要的化學和結構信息。在2808展位，雷尼紹專家將講解每種成像技術集合后的綜合效益，以及增加透射拉曼如何能提供最大的靈活性。
應用科學家Pippa Law將于3月9日下午2:30作關于透射拉曼的報告。她將講解透射拉曼對于快速定量分析塊狀材料均勻性來說是一種多么具有吸引力的方法。通過聚焦藥品，她將演示透射拉曼在分析諸如藥片劑量和混合物均一性等應用方面的顯著效益。
歡迎在Pittcon展會上蒞臨雷尼紹展臺，或聯系您當地的銷售代表，了解inVia共焦顯微拉曼光譜儀如何生成優質的拉曼圖像。
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