Wayne Kerr Electronics研討會于2014年04月11日在深圳會展中心6號館6C001舉行。測控技術是建立在電路與計算機基礎上的一門新興技術。21世紀的測控將是一個開發的系統概念，信息交換共享這個時代主題也是測控系統的發展方向，所以，通過組建網絡來形成使用測控系統已成為現代測控技術的發展趨勢。
深圳市穩科電子儀器有限公司 林謙
本次會議針對測控技術主要提到以下3個方面：
1.影響測試的主要的幾個因素
2.儀器顯示問題
3.很難測準的器件
Wayne Kerr Electronics成立于1946，總部在英國，主要設計和制造電子測試測量儀器專注LCR，并且擁有世界范圍內的銷售網絡。本次會議由深Wayne Kerr Electronics林謙先生為大家做詳細講解。
在會上，林謙先生提到影響測試的主要有以下幾個因素：測試頻率的影響、測試信號源的大小、測試直流偏置大小影響、溫度影響、其他一些因素影響。并為大家介紹了其公司產品，32651臺輸出25A，5臺疊加可以到125A，最高使用頻率到3MHz；6565則是1臺加偏置電流10A，4臺疊加可以到40A，最高頻率到120MHz，客戶可按需求進行選擇使用。
最后，在介紹很難測準的器件時，林謙先生為大家分享了自己的經驗之談，在一些廠家通常有生產一種電容的ESR值非常小通常在uΩ級別，這個對儀器是一個考驗。
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