看好PXI模組化架構持續推動半導體自動化測試(ATE)產業進展，美商國家儀器(National Instruments；NI)公司在日前舉辦的第八屆大中華 PXI 技術與應用論壇(PXI TAC)中引用“摩爾定律”(Moore’s Law)指出，隨著以軟體定義為基礎的PXI模組化平臺不斷整合多核心＼
FPGA與虛擬化等創新技術，各種ATE測試設備的尺寸、系統成本與功耗也縮減了十倍以上。

　　摩爾定律是由英特爾(Intel)創辦人之一的Gordon Moore在1965年提出──積體電路(IC)上可容納的電晶體數目，約每隔12個月(1975年摩爾將12個月更改為18個月)便會增加一倍，性能也將提升一倍。這一定律不但揭示資訊技術進步的速度，同時也適用于以軟體定義的模組化自動測試系統進展腳步。

　　NI亞洲區業務副總裁 Victor Mieres指出，“自1997年導入PXI以來，摩爾定律為基于PXI的模組化設備帶來了重大的影響。摩爾定律適用于軟體定義的模組化自動測試系統，客戶的量測儀器尺寸、整體價格和功耗的減少均可達10倍以上。”他并強調：“基于 PXI 開放的工業平臺，結合來自摩爾定律的創新技術，所有 PXI 產品將得以成功地用于自動化測試產業。”

　　Mieres所說的創新技術包括了LabVIEW圖形化系統設計(GSD)軟體、基于FPGA的可重配置I/O，以及整合的計時與同步設備，結合先進的PXI模組化儀器，將更能協助工程師在摩爾定律的前下打造更自動化的測試系統。特別是在以LabVIEW圖形化系統設計為主的測試系統中加入最新的商業可用的技術，如多核心、PCI Expresss與FPGA等先進技術，模組化PXI架構更進一步提升測試效能并擴展應用領域。

　　NI與太克科技 (Tektronix)合作開發的最高頻寬 PXI 示波器 NI PXIe-5185 更進一步驗證了摩爾定律在測試系統上的進展。NI資深產品經理Rebecca Suemnicht說：“這款全新的示波器在 基于 PXI 的架構下，能夠以更小體積達到更高效能。”

　　NI 表示，透過摩爾定律的創新技術，未來還將與合作廠商策略整合，共同開發更多基于PXI架構的高成本效益測試系統，以因應未來的應用需求。