11月1～3日，業界最高級別的 “CCATM’2012國際冶金及材料分析測試 學術報告會及展覽會”在北京國家會議中心隆重召開 。超過600位的與會者就光譜分析、化學分析、氣體分 析、狀態/相分析、材料組織結構分析測試與物性分析、力學測試以及無損檢測、材料外觀質量檢測及在線分析等 技術的最新進展與未來發展動向進行了深入交流。
    島津公司以專業團隊參加了此次展會。會議展區著重展示了UFMS系列樣機GCMS， LCMS；展區展板重點宣傳了AA-7000，ICP，EPMA，MXF，PDA等多款光譜儀器。島津多名技術人員與與會者就島津出 展的儀器性能特點及相關分析測試技術等問題展開了多層次的探討。     在本次國際冶金及材料分析測試學術會議上，島津分析中心共提交“電感耦合 等離子體發射光譜法測定高純銅中的雜質元素”等6篇高水準論文，這些論文發表在《冶金分析》刊物上。     島津廣州分析中心光譜應用工程師劉舟先生，代表島津公司在大會上發表了《電感 耦合等離子體發射光譜測定鎳鉻生鐵中鎳鉻磷含量》，詳細介紹了島津ICP的性能特點，并對鎳鉻生鐵中鎳、鉻、 磷含量實驗的分析進行了深入講解。該技術報告非常貼近與會代表日常測試的需求，大家互相交流討論收益頗多。     通過參加本次大會，島津上海分析中心進一步明確了今后工作的重點，力圖充分發 揮島津分析技術的優勢，為新材料領域開發更為先進、更為貼近中國用戶實際需求的整體解決方案。