為了使電子設備按規(guī)定運行，其半導體和電子元件必須在設計參數范圍內工作。溫度是一個關鍵參數，特別是當內部溫度高于設計時的假設溫度時。這可能是在安全性和可靠性方面的一個主要問題，因此需要過溫監(jiān)測解決方案來檢測任何的溫升。

新款Thermoflagger^™ IC與PTC熱敏電阻結合使用，可根據溫度改變電阻值進行監(jiān)測。它們可檢測放置在熱源附近的PTC熱敏電阻的電阻值變化，并輸出FLAG信號以顯示過溫。串聯PTC熱敏電阻可實現多個位置的過溫檢測.

新款IC采用小型標準SOT-553封裝（東芝的封裝名稱：ESV），電流消耗低至11.3μA（典型值）。

采用新款IC的參考設計“過溫檢測IC Thermoflagger^™的應用電路”^①現已發(fā)布。

Thermoflagger^™ IC允許用戶為整個電子產品輕松配置過溫檢測系統，并助力實現尺寸和功耗的雙重改善。東芝將繼續(xù)開發(fā)具有各種功能的Thermoflagger^™ IC。

圖1：Thermoflagger^™過溫保護解決方案

圖2：Thermoflagger^™ TCTH021BE的電路板樣品

應用

● 移動設備（筆記本電腦等）

● 家用電器

● 工業(yè)設備等

特性

● 配置簡單，可與PTC熱敏電阻結合使用

● 通過串聯PTC熱敏電阻可同時在多個點進行過溫監(jiān)測

● 低功耗：IDD10U＝11.3μA（典型值）

● 小型標準封裝：SOT-553（ESV）

● 可選PTCO輸出電流：I_PTCO＝10μA（典型值）

● 高PTCO輸出電流精度：±8%（V_DD＝3.3V，25℃）

● FLAG信號輸出（PTCGOOD）

主要規(guī)格

（除非另有說明，T_j＝25℃）