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        北京天惠維測電子有限公司

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        匯能HN2600DX/C
        發(fā)布時(shí)間:2011-10-20        瀏覽次數(shù):103749        返回列表

        一、主要技術(shù)指標(biāo):
            1.操作系統(tǒng):支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。
            2.通訊接口:主流的USB接口。
            3.?dāng)?shù)字測試通道: 40通道,支持驅(qū)動(dòng)電平 ±(1~15)V。
            4.?dāng)?shù)字通道電平范圍:±15V內(nèi)全邏輯電平通道。
            5.模擬測試通道: 160路(雙屬性通道)。
            6.總線隔離專用數(shù)字通道: 8通道。
            7.后驅(qū)動(dòng)電流: ≥300 mA。
            8.?dāng)?shù)字通道測試速度: (1~45 Ktv/S)8檔可選。
            9.在線提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 13種。
            10.?dāng)?shù)字器件的閾值電平: TTL、CMOS5、CMOS12、ECL、EIA、3.3V緊/松調(diào)節(jié);自定義調(diào)節(jié)。
            11.程控外供電源(自動(dòng)控制、自保護(hù)功能): 3.3V/2A、5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。     
            12.電源加電延遲時(shí)間:(0.5~7)秒 6檔可選。
            13.測試探棒: 2組8個(gè)測試口。
            14.模擬信號(hào)掃描電壓幅度: ±1V~±28V, 步距0.5V可調(diào)。
            15.VI分辨率: 8~128點(diǎn)/周期。
            16.輸出阻抗匹配: 100Ω / 1KΩ/10KΩ/100KΩ可選。
            17.模擬通道最大測試頻率: 1KHZ。
            18.脈沖發(fā)生器脈沖幅度: ±1V~±28V。
            19.電路板網(wǎng)絡(luò)測試通/斷閾值: 25Ω±5Ω。
            20.腳踏開關(guān):支持。
            21.參數(shù)測試模塊:支持。

            二、 主要測試功能:
            1. 數(shù)字邏輯器件性能(直流參數(shù))測試:
            維修實(shí)踐發(fā)現(xiàn),有些器件的原有功能尚能實(shí)現(xiàn),但參數(shù)卻發(fā)生了變化,元件性能表現(xiàn)的很不穩(wěn)定,設(shè)備或電
        路板仍然不能正常工作,為此天惠公司開發(fā)了針對(duì)集成電路直流參數(shù)的測試功能,支持對(duì)數(shù)字集成電路的輸入漏
        電流和輸出驅(qū)動(dòng)電流等直流參數(shù)測試。如輸入漏電流(Iih,IiL,Vih,ViL);輸出驅(qū)動(dòng)電流(IOL,IOh,VOL,
        VOh)。
            2. 數(shù)字邏輯器件在/離線功能測試:
            能夠?qū)Χ噙壿嬰娖綌?shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測試;測試器件庫龐大,僅邏輯數(shù)字器件就1 萬多種;
        測試范圍廣:TTL54/74系列、8000系列、9000系列、CMOS4000系列、ECL、接口器件、俄羅斯器件、西門子器
        件庫。
            3.ASA(VI)模擬特征分析測試:
            ASA測試通過比較好電路板和故障電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測故障,可把故障定位到電路結(jié)
        點(diǎn)。ASA測試不涉及器件功能,無論何種元器件,模擬的、數(shù)字的、功能已知的、功能未知的都能檢測;ASA測試
        是逐管腳進(jìn)行的,基本上不受器件封裝限制,任何封裝形式的器件均可進(jìn)行測試。 ASA測試無需給電路板加電,
        使用較為安全。
            4.單/多端口VI曲線分析比較測試:
            對(duì)器件采取單端口或多端口的VI曲線測試方式;單端口測試方式是指每個(gè)管腳對(duì)地提取一遍阻抗特性曲線,
        而多端口是以任一腳做參考提取一遍VI曲線。
            5.ASA 曲線雙棒動(dòng)態(tài)比較測試:
            使用雙路探棒對(duì)兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點(diǎn)時(shí)時(shí)的進(jìn)行動(dòng)態(tài)比較測試;當(dāng)被測板上的器件不能使用測試夾
        測試時(shí),此種方法最有效。
            6.ASA 曲線測試智能提醒功能:
            當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測試時(shí),如果超差,儀器會(huì)出現(xiàn)報(bào)警聲音,引起使用者注意,該測試方法利用微機(jī)喇
        叭產(chǎn)生類似于萬用表Beep的效果,提高了檢測效率,也大大降低了勞動(dòng)強(qiáng)度。
            7.ASA 測試曲線靈敏度可調(diào):
            當(dāng)ASA曲線走勢趨向于45度時(shí),如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化,曲線就變化明顯,反映故障的觀察靈敏度就越精
        確,曲線反映故障靈敏度與測試參數(shù)相關(guān),適當(dāng)調(diào)整測試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線;該測試方法能夠自動(dòng)搜索
        出對(duì)故障較靈敏的那根曲線,有效的提高了故障檢出率。
            8.可按管腳設(shè)置ASA 曲線測試參數(shù):
            可根據(jù)具體器件的測試需要,給不同管腳設(shè)置不同的測試參數(shù),可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線;
        大大提高了測試的靈活性。
            9.ASA 曲線故障快速定位/查找功能:
            當(dāng)VI測試出現(xiàn)故障曲線時(shí),測試儀提供快速的曲線定位/查找功能選項(xiàng),使用戶觀察曲線更方便、直觀。
            10. 對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線有效識(shí)別:
            增強(qiáng)了對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線有效識(shí)別的判斷水平,降低了誤判率,進(jìn)一步提高了測試準(zhǔn)確度。
            11. VI曲線參數(shù)值量化功能:
            即從被測電路或器件的ASA曲線中可以獲取相應(yīng)的參數(shù)測試值并保存,且能夠用寫字板或OFFICE工具軟件直
        接進(jìn)行編輯或?yàn)g覽。
            12. 求取平均曲線的測試功能:
            用戶可以先測試多個(gè)器件,得到多個(gè)曲線文件,然后利用該功能把多個(gè)曲線文件平均成一個(gè)曲線文件,作為以
        后的測試比較標(biāo)準(zhǔn)。
            13.VI曲線雙板直接對(duì)比測試:
            使用雙路測試夾對(duì)兩塊相同電路板(一塊好板和一塊壞板)上的相應(yīng)IC同時(shí)進(jìn)行VI曲線提取、存儲(chǔ)和比較
        測試,測試效率極高。
            14.三端器件測試:
            完成對(duì)三端分立元件的動(dòng)態(tài)測試功能,如三極管、可控硅、場效應(yīng)管、繼電器等元件測試。
            15.ASA 曲線多種排列/顯示方式:
            可按比較誤差降序排列顯示曲線,比較誤差升序排列顯示曲線,還可按器件管腳順序排列曲線;可以“按點(diǎn)
        ”或“畫線”來顯示曲線,單個(gè)管腳的曲線可以單獨(dú)放大或縮小。
            16.電容、電感定量測試:
            可直接在離線狀態(tài)下準(zhǔn)確測試電容的容量及漏電阻,并展現(xiàn)出電容在充放電過程中不同的阻值的過程;能夠
        測試出電感的電感量及串聯(lián)電阻;
            17. 電路板圖象建庫測試:
            通過數(shù)碼相機(jī)或掃描儀將一塊好的電路板輸入到計(jì)算機(jī)內(nèi),在屏幕上就可以對(duì)該板上各個(gè)集成電路芯片進(jìn)行
        編號(hào),以便讓儀器知曉器件所在位置,然后即可對(duì)每一個(gè)器件同時(shí)進(jìn)行邏輯功能在線測試及VI曲線掃描測試,從而
        建立起整板的測試庫,當(dāng)需要維修時(shí),只需將該板從計(jì)算機(jī)軟件內(nèi)調(diào)出,就可以直接對(duì)其進(jìn)行故障診斷,適用于批量
        電路板的維修。
            18.?dāng)?shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測試:
            能夠提取13種復(fù)雜的電路在線狀態(tài),如開路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號(hào)、非法電平、總線競爭等等狀態(tài),對(duì)測試器件外
        電路的識(shí)別能力強(qiáng)。
            19.總線競爭信號(hào)隔離功能:
            用于解除總線競爭,確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373、74LS245、等),可提供8路總線競
        爭隔離信號(hào)。
            20.IC型號(hào)識(shí)別:
            針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件,可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測試。
            21. LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測試:
            可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測試。
            22.讀寫存儲(chǔ)器功能測試:
            直接檢測存儲(chǔ)器SRAM / DRAM芯片的好壞,該測試無需事先學(xué)習(xí),有獨(dú)立的測試器件庫,可采用在線、離線
        測試方式。
            23.只讀存儲(chǔ)器功能測試:
            可采取在線(離線)學(xué)習(xí)/比較的測試方法,先把好板上EPROM中的程序讀出來,保存到計(jì)算機(jī)上,再和壞
        板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測試;測試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上,并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。
            24.元器件循環(huán)測試功能:
            該功能可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測試,直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止,易于發(fā)現(xiàn)一些器
        件的非固定性故障(或稱為軟故障)。
            25.?dāng)?shù)字邏輯器件測試閾值可調(diào)功能:
            閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外,還
        可選自定義。此時(shí)高閾值可輸入為不大于12V,低閾值可輸入為不小于-12V的電平值。通過調(diào)整器件的閾值電平
        ,能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動(dòng)能力下降導(dǎo)致的電路故障。
            26.加電延遲可選功能:
            當(dāng)遇到被測電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時(shí)可用到此功能。該選項(xiàng)是確定在測試儀接通外供電源
        以后,需要等待多長時(shí)間后才開始進(jìn)行測試。
            27.測試夾接觸檢查功能:
            主要解決當(dāng)測試夾與被測器件接觸不良(如被測器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等)時(shí),造成的測試
        誤判。
            28.運(yùn)算放大器在線功能測試:
            使用模擬信號(hào)測試運(yùn)放在線性放大區(qū)的工作特性,測試技術(shù)或國家發(fā)明專利,有獨(dú)立的測試器件庫,包含
        LM324、LM348等共計(jì)3000多種。
            29. 電壓比較器測試:
            模擬電壓比較器用于判斷兩個(gè)信號(hào)的微小差異,通過本測試儀可以很容易測試。
            30.光電耦合器在線功能測試:
            由于光耦是電流控制器件,采用電流激勵(lì)信號(hào)測試,方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn),準(zhǔn)確度高;有獨(dú)立的光耦測試器件庫,
        達(dá)500多種。
            31.光電耦合器離線直流參數(shù)測試:
            可在離線情況下對(duì)光耦的主要直流參數(shù)(如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等)進(jìn)行測試,解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)
        現(xiàn)的故障現(xiàn)象,提高了故障檢出率;
            32.UDT自定義測試平臺(tái):
            把測試儀的測試通道開放給用戶,由用戶對(duì)被測元件或電路的輸入施加激勵(lì)信號(hào),然后從輸出采集響應(yīng)信號(hào)
        ,類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測試方法。
            33. UDT下AD、DA類器件功能測試:
            用戶通過UDT控制匯能測試儀,向被測試器件(AD/DA)或電路的輸入施加數(shù)字、模擬激勵(lì)信號(hào),從輸出取
        回相應(yīng)的響應(yīng)信號(hào),通過比較相同激勵(lì)信號(hào)下,器件/電路的實(shí)測響應(yīng)信號(hào)與預(yù)期(標(biāo)準(zhǔn))響應(yīng)信號(hào)的符合程度
        ,實(shí)現(xiàn)故障檢測。
            34. AFT電路故障追蹤:
            AFT可以看成“信號(hào)發(fā)生器+示波器”測試方式的直接擴(kuò)充。本測試儀上能夠設(shè)置多種測試信號(hào),并且能把
        測試信號(hào)以及好板電路對(duì)測試信號(hào)的響應(yīng),關(guān)聯(lián)在一起存放在計(jì)算機(jī)中——建立用戶自己的電路板測試庫,用于
        對(duì)故障板的測試;也可以把同樣的測試信號(hào)同時(shí)加在好、壞板的電路上,直接對(duì)照兩者的輸出結(jié)果。
            35.電路板網(wǎng)絡(luò)測試:
            使用模擬信號(hào)提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系,測試時(shí)無須加電,通/斷閾值設(shè)置明確。能
        夠支持對(duì)用戶的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開路、短路測試變的更加方便和快捷。
            36. 晶體管輸出特性曲線測試:
            可以測出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導(dǎo)曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力大小
        ,以及均勻程度,直觀看到晶體管的三個(gè)區(qū):截止區(qū)、放大區(qū)、和飽和區(qū)的具體情況。可用于晶體管的篩選,尤
        其在晶體管配對(duì)時(shí)特別有用。
            37.填表方式擴(kuò)充模擬器件庫:
            以填表的方式定義模擬器件的各個(gè)管腳狀態(tài):如:正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接
        地腳,以及其他狀態(tài)等。
            38.以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫:
            采用HNDDL語言,自適應(yīng)技術(shù)完善;把擴(kuò)充程序直接開放給用戶,由用戶自己可以自行填加測試器件庫。
            39.元器件速查手冊(電子詞典):
            元件庫容量近四萬種,供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。
            40.維修日記:
            供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì),發(fā)生的重要事情等,長期保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn),會(huì)大大提高維修水平和技
        能。
            41.后臺(tái)操作記錄:
            測試儀會(huì)自動(dòng)記錄測試過程及測試結(jié)果等信息。

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