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產(chǎn)品分類(lèi) 產(chǎn)品中心 匯能HN2000DX/C
發(fā)布時(shí)間：2011-10-20 瀏覽次數(shù)：103012 返回列表
一、主要技術(shù)指標(biāo)： 1．操作系統(tǒng)：支持 WIN98/WIN2000/WINXP/VISTA操作系統(tǒng)。 2．通訊接口：主流的USB接口。 3．?dāng)?shù)字測(cè)試通道：40通道，支持驅(qū)動(dòng)電平 ±（1～15）V。 4. 數(shù)字通道電平范圍：±15V內(nèi)全邏輯電平通道。 5．模擬測(cè)試通道：160路。 6．總線(xiàn)隔離專(zhuān)用數(shù)字通道：8通道。 7．后驅(qū)動(dòng)電流：≥300 mA。 8．?dāng)?shù)字通道測(cè)試速度： （1～45 Ktv/S）8檔可選。 9．在線(xiàn)提取數(shù)字器件管腳狀態(tài):13種。 10．?dāng)?shù)字器件的閾值電平： TTL、CMOS5、CMOS12、ECL、EIA、3.3V緊/松調(diào)節(jié)；自定義調(diào)節(jié)。 11.程控外供電源（自動(dòng)控制、自保護(hù)功能）： 3.3V/2A、5V/4A、 -5V/2A、+12V/2A、-12V/2A。 12．電源加電延遲時(shí)間：（0.5～7）秒 6檔可選。 13．測(cè)試探棒:2組4個(gè)測(cè)試口。 14．模擬信號(hào)掃描電壓幅度： ±1V～±28V, 步距0.5V可調(diào)。 15．VI分辨率：8～128點(diǎn)/周期。 16．輸出阻抗匹配：100Ω / 1KΩ／10KΩ／100KΩ可選。 17．模擬通道最大測(cè)試頻率: 1KHZ。 18．脈沖發(fā)生器脈沖幅度：±1V～±28V。 19．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試通/斷閾值：25Ω±5Ω。 二、 主要測(cè)試功能： 1. 數(shù)字邏輯器件在/離線(xiàn)功能測(cè)試： 能夠?qū)Χ噙壿嬰娖綌?shù)字邏輯器件進(jìn)行在線(xiàn)/離線(xiàn)功能測(cè)試；測(cè)試器件庫(kù)龐大，僅邏輯數(shù)字器件就1 萬(wàn)多種；測(cè)試范圍廣：TTL54/74系列、8000系列、9000系列、CMOS4000系列、ECL、接口器件、俄羅斯器件、西門(mén)子器件庫(kù) 2．ASA（VI）模擬特征分析測(cè)試： ASA測(cè)試通過(guò)比較好電路板和故障電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線(xiàn)差異檢測(cè)故障，可把故障定位到電路結(jié)點(diǎn)。ASA測(cè)試不涉及器件功能，無(wú)論何種元器件，模擬的、數(shù)字的、功能已知的、功能未知的都能檢測(cè)；ASA測(cè)試是逐管腳進(jìn)行的，基本上不受器件封裝限制，任何封裝形式的器件均可進(jìn)行測(cè)試。 ASA測(cè)試無(wú)需給電路板加電，使用較為安全。 3．單/多端口VI曲線(xiàn)分析比較測(cè)試： 對(duì)器件采取單端口或多端口的VI曲線(xiàn)測(cè)試方式；單端口測(cè)試方式是指每個(gè)管腳對(duì)地提取一遍阻抗特性曲線(xiàn)，而多端口是以任一腳做參考提取一遍VI曲線(xiàn)。 4．ASA 曲線(xiàn)雙棒動(dòng)態(tài)比較測(cè)試： 使用雙路探棒對(duì)兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點(diǎn)時(shí)時(shí)的進(jìn)行動(dòng)態(tài)比較測(cè)試；當(dāng)被測(cè)板上的器件不能使用測(cè)試夾測(cè)試時(shí)，此種方法最有效。 5．ASA 曲線(xiàn)測(cè)試智能提醒功能： 當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測(cè)試時(shí)，如果超差，儀器會(huì)出現(xiàn)報(bào)警聲音，引起使用者注意，該測(cè)試方法利用微機(jī)喇叭產(chǎn)生類(lèi)似于萬(wàn)用表Beep的效果，提高了檢測(cè)效率，也大大降低了勞動(dòng)強(qiáng)度。 6．ASA 測(cè)試曲線(xiàn)靈敏度可調(diào)： 當(dāng)ASA曲線(xiàn)走勢(shì)趨向于45度時(shí)，如果曲線(xiàn)的數(shù)據(jù)發(fā)生變化，曲線(xiàn)就變化明顯，反映故障的觀察靈敏度就越精確，曲線(xiàn)反映故障靈敏度與測(cè)試參數(shù)相關(guān)，適當(dāng)調(diào)整測(cè)試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線(xiàn)；該測(cè)試方法能夠自動(dòng)搜索出對(duì)故障較靈敏的那根曲線(xiàn)，有效的提高了故障檢出率。 7．可按管腳設(shè)置ASA 曲線(xiàn)測(cè)試參數(shù)： 可根據(jù)具體器件的測(cè)試需要，給不同管腳設(shè)置不同的測(cè)試參數(shù)，可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線(xiàn)；大大提高了測(cè)試的靈活性。 8．ASA 曲線(xiàn)故障快速定位/查找功能： 當(dāng)VI測(cè)試出現(xiàn)故障曲線(xiàn)時(shí)，測(cè)試儀提供快速的曲線(xiàn)定位/查找功能選項(xiàng)，使用戶(hù)觀察曲線(xiàn)更方便、直觀。 9. 對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線(xiàn)有效識(shí)別： 增強(qiáng)了對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線(xiàn)有效識(shí)別的判斷水平，降低了誤判率，進(jìn)一步提高了測(cè)試準(zhǔn)確度。 10. VI曲線(xiàn)參數(shù)值量化功能： 即從被測(cè)電路或器件的ASA曲線(xiàn)中可以獲取相應(yīng)的參數(shù)測(cè)試值并保存,且能夠用寫(xiě)字板或OFFICE工具軟件直接進(jìn)行編輯或?yàn)g覽。 11.求取平均曲線(xiàn)的測(cè)試功能： 用戶(hù)可以先測(cè)試多個(gè)器件,得到多個(gè)曲線(xiàn)文件,然后利用該功能把多個(gè)曲線(xiàn)文件平均成一個(gè)曲線(xiàn)文件,作為以后的測(cè)試比較標(biāo)準(zhǔn)。 12．VI曲線(xiàn)雙板直接對(duì)比測(cè)試: 使用雙路測(cè)試夾對(duì)兩塊相同電路板（一塊好板和一塊壞板）上的相應(yīng)IC同時(shí)進(jìn)行VI曲線(xiàn)提取、存儲(chǔ)和比較測(cè)試，測(cè)試效率極高。 13．三端器件測(cè)試： 完成對(duì)三端（含輸入/輸出）分立元件的動(dòng)態(tài)測(cè)試功能，如三極管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管、繼電器等元件測(cè)試 14．ASA 曲線(xiàn)多種排列/顯示方式： 可按比較誤差降序排列顯示曲線(xiàn)，比較誤差升序排列顯示曲線(xiàn)，還可按器件管腳順序排列曲線(xiàn)；可以“按點(diǎn)”或“畫(huà)線(xiàn)”來(lái)顯示曲線(xiàn)，單個(gè)管腳的曲線(xiàn)可以單獨(dú)放大或縮小。 15．電容、電感定量測(cè)試： 可直接在離線(xiàn)狀態(tài)下準(zhǔn)確測(cè)試電容的容量及漏電阻，并展現(xiàn)出電容在充放電過(guò)程中不同的阻值的過(guò)程；能夠測(cè)試出電感的電感量及串聯(lián)電阻； 16．?dāng)?shù)字邏輯器件在線(xiàn)狀態(tài)測(cè)試： 能夠提取13種復(fù)雜的電路在線(xiàn)狀態(tài)，如開(kāi)路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號(hào)、非法電平、總線(xiàn)競(jìng)爭(zhēng)等等狀態(tài)，對(duì)測(cè)試器件外電路的識(shí)別能力強(qiáng)。 17．總線(xiàn)競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能： 用于解除總線(xiàn)競(jìng)爭(zhēng)，確保正確測(cè)試掛在總線(xiàn)上的三態(tài)器件（如74LS373、74LS245、等），可提供8路總線(xiàn)競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào)。 18．IC型號(hào)識(shí)別： 針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件，可“在線(xiàn)”或“離線(xiàn)”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試。 19． LSI大規(guī)模集成電路在線(xiàn)功能及狀態(tài)分析測(cè)試： 可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。 20．讀寫(xiě)存儲(chǔ)器功能測(cè)試: 直接檢測(cè)存儲(chǔ)器SRAM / DRAM芯片的好壞，該測(cè)試無(wú)需事先學(xué)習(xí)，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù)，可采用在線(xiàn)、離線(xiàn)測(cè)試方式。 21．只讀存儲(chǔ)器功能測(cè)試： 可采取在線(xiàn)（離線(xiàn)）學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái)，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。 22．元器件循環(huán)測(cè)試功能： 該功能可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試，直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱(chēng)為軟故障）。 23．?dāng)?shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)功能： 閾值電平是指判定器件輸出是邏緝１或邏輯０的門(mén)檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。此時(shí)高閾值可輸入為不大于12V，低閾值可輸入為不小于-12V的電平值。通過(guò)調(diào)整器件的閾值電平，能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動(dòng)能力下降導(dǎo)致的電路故障。 24．加電延遲可選功能： 當(dāng)遇到被測(cè)電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時(shí)可用到此功能。該選項(xiàng)是確定在測(cè)試儀接通外供電源以后，需要等待多長(zhǎng)時(shí)間后才開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。 25．測(cè)試夾接觸檢查功能： 主要解決當(dāng)測(cè)試夾與被測(cè)器件接觸不良（如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等）時(shí)，造成的測(cè)試誤判 26．運(yùn)算放大器在線(xiàn)功能測(cè)試： 使用模擬信號(hào)測(cè)試運(yùn)放在線(xiàn)性放大區(qū)的工作特性，測(cè)試技術(shù)或國(guó)家發(fā)明專(zhuān)利，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù)，包含LM324、LM348等共計(jì)3000多種。 27．光電耦合器在線(xiàn)功能測(cè)試： 由于光耦是電流控制器件，采用電流激勵(lì)信號(hào)測(cè)試，方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn)，準(zhǔn)確度高；有獨(dú)立的光耦測(cè)試器件庫(kù)，達(dá)500多種 28．光電耦合器離線(xiàn)直流參數(shù)測(cè)試： 可在離線(xiàn)情況下對(duì)光耦的主要直流參數(shù)（如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等）進(jìn)行測(cè)試，解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象，提高了故障檢出率； 29．UDT自定義測(cè)試平臺(tái)： 把測(cè)試儀的測(cè)試通道開(kāi)放給用戶(hù)，由用戶(hù)對(duì)被測(cè)元件或電路的輸入施加激勵(lì)信號(hào)，然后從輸出采集響應(yīng)信號(hào)，類(lèi)似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測(cè)試方法。 30．電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試: 使用模擬信號(hào)提取或比較線(xiàn)路板上任意元器件之間的連線(xiàn)關(guān)系，測(cè)試時(shí)無(wú)須加電，通/斷閾值設(shè)置明確。能夠支持對(duì)用戶(hù)的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開(kāi)路、短路測(cè)試變的更加方便和快捷。 31．填表方式擴(kuò)充模擬器件庫(kù)： 以填表的方式定義模擬器件的各個(gè)管腳狀態(tài)：如：正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接地腳，以及其他狀態(tài)等。 32．以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫(kù)： 采用HNDDL語(yǔ)言，自適應(yīng)技術(shù)完善；把擴(kuò)充程序直接開(kāi)放給用戶(hù)，由用戶(hù)自己可以自行填加測(cè)試器件庫(kù)。 33．元器件速查手冊(cè)（電子詞典）： 元件庫(kù)容量近四萬(wàn)種，供用戶(hù)查閱元器件的名稱(chēng)、管腳排列、封裝等信息。 34．維修日記： 供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì)，發(fā)生的重要事情等，長(zhǎng)期保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn)，會(huì)大大提高維修水平和技能。 35．后臺(tái)操作記錄： 測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)記錄測(cè)試過(guò)程及測(cè)試結(jié)果等信息。 |